跌落试验测试机构探讨手机的跌落试验测试

2019-06-17 10:45:07 106彩票| 已读

  跌落试验测试是为了产品包装后在模拟不同的棱、角、面于不同的高度跌落于地面时的情况,从而了解产品受损情况及评估产品包装组件在跌落时所能承受的堕落高度及耐冲击强度,下面跌落试验测试机构给大家详细讲解下。


  一.测试环境:室温(20-25℃)


  二.测试目的:暴露因高低温冲击引诱的样品缺陷


  三.参考标准:GB/T2423.8-1995


  四.测试检查项目


  1.电性能参数测试:如果被测试样品为GSM/DCS,参照附录一进行参数测试。如果被测试样品为CDMA,参照附录二进行参数测试。


  2.功能测试:拨打电话,显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充电、蓝牙、MINISD卡以及其它未描述到的功能。


  3.结构测试:壳体配合、结构件配合、天线、Lens、显示屏、装饰件以及其它未描述到的结构。


  4.外观测试:喷涂、印刷、电镀等,以及未描述到的外观。


  5.内存时钟:样机中存中存入5个电话和5条短信息,设置手机时钟为当前日期时间。


  五.跌落试验测试中心介绍下测试方法


  1.样机中存中存入5个电话和5条短信息,设置手机时钟为当前日期时间。


  2.将样机设置为开机插卡状态,对手机进行6个面1.5m的自由跌落实验,每个面的跌落次数为2次,每个面跌落面都要对手机的外观、结构、内存、时间和功能进行检查。


  3.跌落顺序为:直板及翻盖手机:左侧面、背面、右侧面、底面、顶面、正面。


  滑盖手机:底面、顶面、背面、正面、左侧面、右侧面。


  4.跌落过程中,对于翻盖手机,应将一半样品打开到使用位置,一半样品闭合为初始状态;对于滑盖手机应将一半样品合上滑盖,一半样品将滑盖打开到上限位置。


  5.若样品数量为奇数,则多的一台打开翻盖或滑开滑盖。


  6.测试条件:跌落高度1.5m,20mm厚的大理石地板。(对于PDA手机,根据所属公司质量部门的建议可调整为跌落高度为1.3m)


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